武器工业与军事技术论文_多故障的电子设备系 - 电子设计工程杂志社投稿

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武器工业与军事技术论文_多故障的电子设备系

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关键词:

摘要：

文章目录

0 引言

1)状态唯二假设。

2)单故障假设。

3)测试对测试点的复用假设。

4)测试有效性等同假设。

1 多故障的诊断设计方法

2 算法验证

2.1 验证系统

2.2 验证系统相关性模型

2.3 验证系统故障假设

2.4 按照传统单故障诊断设计方法的设计

2.5 按照多故障诊断设计方法的设计

2.6 验证结果对比分析

2.7 算法性能综合分析

3 应用验证

4 结束语

文章摘要:针对复杂电子设备在使用过程中多故障诊断难的问题,以相关性模型为基础,提出了一种多故障诊断的设计方法;首先,根据相关性模型确定测试D矩阵,并获得组成单元与测试次数的关系矩阵;其次,根据每次实际测试的结果构建测试结果矩阵,并计算获得测试故障单元矩阵;最后,通过综合测试故障单元矩阵与测试次数关系矩阵的数据,确定故障单元的概率,根据故障概率定位出故障单元;通过实例验算表明:多故障诊断方法可准确定位故障单元,大幅降低误修率。

文章关键词:多故障,相关性模型,测试性D矩阵,故障诊断,测试性,

论文作者:何丽彭黎丽

作者单位:西南电子设备研究所

论文DOI: 10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2021.08.002

论文分类号: E92;TN07

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文章来源：《电子设计工程》网址: http://www.dzsjgc.cn/qikandaodu/2021/0823/1506.html